安東帕Anton Paar顆粒表征激光粒度分析儀

廣州金程科學儀器公司供應的安東帕Anton Paar激光顆粒粒度分析儀Litesizer

安東帕Anton Paar顆粒表征激光粒度分析儀采用光散射技術來確定分散液中納米顆粒和微顆粒的顆粒尺寸、zeta 電位、透光率、分子量以及折光率。PSA 系列使用激光衍射技術來測量分散液和固體粉末中微米和毫米范圍內的顆粒尺寸。

儀器特點：

Litesizer 可為樣品選擇較理想的測量角度，以確保數(shù)據(jù)質量

Litesizer 500 有三個用于 DLS 測量的檢測角度（側散射、向后散射或向前散射），允許參數(shù)設置。儀器帶有自動角度選擇功能，可以為您的樣品確定合適的角度。Litesizer 100 使用通用的后向散射角，這對于濁度樣品較理想，因為它減少了多個散射事件，實現(xiàn)高精度的數(shù)據(jù)。您可以對樣品進行完整的分析，因為 Litesizer 系列能夠在一次測量中溶解多達三種不同的粒度等級。

zeta 電位測量降至 0.1 mg/mL，實現(xiàn)高靈敏度

利用 Litesizer 500，您可以通過電泳光散射法執(zhí)行 zeta 電位測量。cmPALS 專li技術（歐洲2 735 870）允許在樣品濃度低的情況下進行高靈敏度測量，獲得有意義的結果，測量時間顯著縮短，樣品降解程度大程度降低。這對肽溶液特別有幫助。此外,安東帕 Ω 型毛細管 zeta 電位的比色皿在測量位置創(chuàng)建一個穩(wěn)定的電場,促使 zeta 電位測量具有高度可重復性。

用于樣品監(jiān)測的持續(xù)的透光率測量

持續(xù)測量的透射率可以給您提供樣品的即時反饋。它進一步允許自動優(yōu)化測量參數(shù)，如測量角度、焦點位置和持續(xù)時間。透光率也提供在一系列測量中有關沉積或聚集開始的數(shù)據(jù)。

一體機-測量折光率

樣品溶劑的折光率是 DLS 和 ELS 測量所需的輸入參數(shù)。 對于大多數(shù)粒度分析儀來說，這些指數(shù)必須由外部來源確定，Litesizer 500 可以在 DLS 或 ELS 測量的精確波長和溫度下測量折光率（歐洲zhuan利 3 023 770）。這確保了在所有試驗條件下，獲得高精確度的粒徑和 zeta 電位值。Litesizer 500 確定的折光率的誤差在 ±0.5% 之內，符合 ISO 22412:2017 規(guī)定的 DLS 所需折光率精度。

使用 Kalliope 軟件可以清楚地了解您的測量結果

Litesizer 系列的測量軟件，Kalliope, 提供直觀的單頁工作流.輸入參數(shù)、測量信號和結果都觸手可及。單頁工作流還允許您只需單擊三次就可以開始測量。 預定義的標準報告和結構化的結果概覽對測量結果提供快速訪問路徑。 您還可以通過分析功能、Excel 導出和定制化報表模板來更深入地查看數(shù)據(jù)。Kalliope 符合 FDA 的 21 CFR Part 11 法規(guī)要求。在這里了解 Kalliope 的更多特性

技術參數(shù)：

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